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| We are created to do good. |
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가변각 탐촉자(variable angle probe) |
 굴절각을 변화시킬 수 잇는 탐촉자 |
| 간접 주사법, 간접 주사(indirect scan technique, indirect scan) |
| 시험체 표면에서의 반사를 이용하여 초음파 빔을 검사 부위에 도달하게 하는 기법 |
| 감 쇠(attenuation) |
| 음파가 재료 내를 진행할 때 흡수와 산란으로 인해 발생하는 음압의 감소 |
| 감쇠 계수(attenuation coefficient) |
재료의 성질, 파장 및 파의 형태에 의존하며, 보통 dB/m로 나타내는 단위 진행 거리 당
감쇠를 나타내는 데 사용되는 계수 |
| 갭 검사법, 갭 주사(gap testing technique, gap scanning) |
시험체 표면에 직접 초음파 탐촉자를 접촉 시키지 않고 파장의 수 배에 해당하는 두께의
액체 기둥을 통해 접촉시키는 기법 |
| 거리 진폭 특성 곡선법, DAC법(DAC method) |
| DAC 곡선과 대비하여 결함의 신호 진폭 크기를 나타내는 방법 |
| 검사 체적(test volume, examination volume) |
| 검사가 수행되어야 할 대상물의 체적 |
| 게이트, 시간 게이트(gate, time gate) |
| 감시나 추가적인 처리를 위해 시간축의 일부를 선택하는 전자적인 수단 |
| 게이트 레벨, 감시 레벨(gate level, monitor level) |
추가적인 처리를 위해 게이트 내 에코 신호들이 크거나 혹은 작은 것들만 선택될 수
있도록 정의된 진폭 레벨 |
| 결함 검출 감도(flaw(defect) detection sensitivity) |
| 검출이 가능한 가장 작은 반사체로 정의되는 초음파 탐상 장비의 특성 |
| 결함 깊이, 반사체 깊이(flaw depth, reflector depth) |
| 시험 표면에서 결함까지 떨어진 최단거리 |
| 결함 지시 길이(ultrasonic flaw length) |
| 탐촉자의 이동 거리에 따라 추정한 흠집의 겉보기 길이 |
| 결함 지시 높이(ultrasonic flaw height) |
| 초음파 시험에서 탐촉자의 이동 거리 등에 의해 추정한 흠집의 판 두께 방향의 치수 |
| 계 면(interface) |
| 음향 임피던스가 서로 다르면서 음향학적으로 접촉 상태에 있는 두 재료간의 경계 |
| 고스트 에코(ghost echo), 유령 에코(phantom echo), 환상 에코(wrap-around) |
| 선행 주기에서 발생한 송신된 펄스로부터 생성된 에코 |
| 공동(void) |
| 재료의 내부에 빈 곳으로서 생기는 흠집 |
| 공칭 주파수(nominal frequency) |
| 제조자에 의해서 정해진 탐촉자의 공칭 주파수 |
| 공칭 진동자 크기(nominal transducer size, transducer size, element size) |
| 진동자의 물리적 크기 |
| 굴절각(angle of refraction) |
| 굴절 빔 축과 계면에 대한 법선 사이의 각도 |
| 기공(gas cavity) |
| 용융 금속 안에 발생한 기포가 응고 시에 이탈되지 못하고 용접부나 잉곳에 잔류한 것 |
| 기포(blow hole) |
| 금속 안에 생기는 구 모양 또는 거의 구 모양의 공동 |
| 그래스(grass) |
시험체 내부에 있는 많은 미소한 경계면에 의한 에코. 다만 분명하게 흠집 에코라고
알 수있는 것은 포함되지 않는데 |
| 근거리 음장(near field), Fresnel zone |
| 간섭으로 인해 음압을 거리와 직접적으로 관계 지을 수 없는 초음파 빔의 영역 |
| 근거리 음장 거리(field length) |
| 초음파 신호 발생원에서 근거리 음장 한계점까지의 거리 |
| 근거리 음장 한계점(near field point) |
| 원거리 음장 전에 빔 축 상에서 음압이 마지막으로 최대가 되는 초음파 빔의 위치 |
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| 사각법(angle beam technique) |
| 시험면에 수직이 아닌 입사각을 갖는 사각 탐촉자의 초음파 빔을 이용하는 기법 |
| 사각 탐촉자(angle probe, angle beam probe, angle beam search unit) |
| 시험체 표면에 대해 수직 이외의 다른 입사각을 갖는 탐촉자 |
| 사각 탐촉자의 편향각(squint angle) |
사각 탐촉자에서 시험체 표면에 투영된 빔의 축과 사각 탐촉자의 기하학적인 축 사이의
각도 |
| 산 란(scattering) |
| 빔 경로 내의 결정 구조 또는 작은 반사체로 인한 불규칙한 반사 |
| 선단 에코법, 선단 회절법(tip echo technique, tip diffraction technique) |
시험체 표면과 평행하지 않은 불연속의 확실한 크기를 측정하는 검사법으로서, 양 선단
으로부터 나온 두 개의 최대 에코의 거리와 사각 탐촉자의 입사각으로 평가하는 기법
비고. 이것은 결함 크기 평가법 중의 하나이다. |
| 선형 주사[법](linear scanning) |
배열형 탐촉자에서 송, 수신을 위상적으로 제어함으로써 진동자 직하 방향으로 초음파
빔을 주사하는 방법 |
| 섹터 주사[법](sector scanning) |
배열형 탐촉자에서 송,수신을 위상적으로 제어함으로써 동일 평면에서 초음파 빔을
부채꼴로 이동시키는 주사 방법 |
| 송신 펄스(transmitter pulse) |
| 초음파 탐상기의 송신부에 의해 발생되며 탐촉자를 야기시키는 전기적인 펄스 |
| 송신 펄스 지시(transmission pulse indication) T |
| 보통 A 주사 표시에서 사용되며, 송신 펄스에 대한 초음파 탐상기의 응답 |
| 수동 주사(manual scanning) |
| 시험체 표면에서 수동작에 의한 탐촉자의 이동 |
| 수직빔 검상법, 수직 탐상법(normal beam technique, straight beam technique) |
| 수직 탐촉자를 이용한 검사법 |
| 수직 탐촉자(normal probe, straight beam probe, straight beam search unit) |
| 시험체 표면에 대해 음파의 진행이 90˚ 가 되는 탐촉자 |
| 수침법, 수침 검사법(immersion technique, immersion testing) |
접촉 매질 또는 굴절 프리즘으로 사용하는 액체 속에 시험체와 탐촉자를 넣어 검사하는
초음파 탐상 기법
비고. 수침은 부분 수침 또는 전몰 수침으로 할 수 있다. 물 제트(water jet) 또는 바퀴형
탐촉자의 적용도 포함된다 |
| 수침 탐촉자(immersion probe) |
| 액체에서 사용할 수 있도록 특별히 설계된 종파 탐촉자 |
| 시간축(time base, sweep) |
| 음파의 노정 거리 또는 시간으로 교정된 표시 단위를 갖는 축; |
| 시간축 조정(rime base control, sweep control) |
| 시간축을 사전에 선택된 거리로 조정하는데 사용되는 장비의 조정 |
| 시간축 직선성(time base linearity) |
시간축상의 지시 위치와 교정된 시간 발생기 또는 이미 알고 있는 판으로부터 얻어진
다중 에코에 의해 제공되는 입력 신호 사이의 비례 관계 |
| 시간축 범위, 검사 범위(time base range, test range) |
| 특정 시간축상에 표시되는 초음파 노정길이 |
| 시험체(test object, examination object) |
| 검사할 또는 검사 중인 대상물 |
| 시험 표면, 주사면(test surface, scanning surface) |
| 탐촉자가 이동하는 시험체 표면 |
| 스킴 거리(skip distance) |
사각 탐촉자의 입사점으로부터 시험체 바닥 면에서 1회 반사된 후 시험체 표면과 만나는
지점까지의 표면 거리 |
| 쐐기, 굴절 프리즘(wedge, refracting prism) |
탐촉자와 시험체 사이에 음향학적인 접촉을 시켜서 시험체 내에 정해진 각도로 초음파를
굴절시키는 특정 모양의 부품 |
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| 열 영향부(heat-affected zone) |
용접, 절단 등의 열로, 조직 또는 야금적 정질 등이 변화를 일으킨 용융되어 있지 않은
모재의 부분 |
| 에코(echo) |
시험체의 흠집, 바닥면, 경계면 등에 반사되어 수신된 펄스 및 그것이 탐상기 의 표시기에
나타난 지시 |
| 에코, 반사(echo, reflection) |
| 탐촉자로 반사된 음의 펄스 |
| 에코 수신점(echo receiving point) |
| 시험체 표면에서 초음파 빔의 에코가 수신되는 점 |
| 오버 히팅(over heating) |
| 과열에 의해 내부까지 뚜렷한 입자 산화를 일으키고 있는 상태 |
| 용접부(weld zone) |
| 용접 금속 및 열 영향부를 포함한 부분의 총칭 |
| 원거리 음장(far field) |
| 빔 축사의 음악이 마지막으로 최대인 지점을 넘어 연장된 초음파 빔의 영역 |
| 위상 배열 탐촉자(phased array probe) |
각각 다른 진폭 혹은 위상으로 독자적으로 작동할 수 있는 여러 개의 요소 진동자로
구성되어 다양한 빔의 각도와 집속 거리를 가질 수 있는 탐촉자 |
| 유효 진동자 크기(effective transducer size) |
| 측정된 근거리 음장의 길이와 파장에 의해 결정된 진동자의 기계적인 크기의 감소된 면적
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| 융합 불량(lack of fusion) |
| 용접 경계면이 서로 충분히 녹지 않은 것 |
| 이득 조정, dB 조정(gain control, dB control, gain adjustment) |
신호를 편리한 높이가 되도록 조정하는, 일반적으로 데시벨 단위로 교정되는 장비의 조정
게이트, 시간 게이트(gate, time gate) : 감시나 추가적인 처리를 위해 시간축의 일부를
선택하는 전자적인 수단 |
| 이물(foreign materials) |
| 본래의 재료 속에 혼합된 다른 물질 |
| 인공 흠집(artificial flaw, calibration reflector) |
탐상기의 감도 등을 조정하기 위해서 시험편에 기계 가공 등에 의해 만든 흠집.
넓적 바닥 구멍, 가로구멍, 관통구멍, V홈, 각홈 등이 사용된다 |
| 임계각(critical angle) |
굴절 이후 전파 형태가 변하는 서로 다른 두 물지 사이의 계면에서의 입사각
비고. 제1 임계각은 그 각 이상이면 입사 음파가 횡파로만 굴절되는 각이다.
제2 임계각은 그 각 이상이면 더 이상 횡파로 굴절되지 않는 각이다.
레일리(Rayleigh파)가 발생하는 각이다. |
| 입사각(angle of incidence) |
| 입사 빔 축과 계면에 대한 법선 사이의 각도 |
| 입사점(probe index) |
탐촉자 표면과 음파 빔 축과의 교차점
비고 사각 탐촉자인 경우, 이 점은 보통 탐촉자의
측면에 표시된다. |
| 음 장(sound field) |
| 송신된 음파 에너지에 의해서 만들어진 3차원의 음압 형태 |
| 음향 그림자(acoustical shadow, shadow zone) |
어떤 특정 방향으로 진행하는 초음파 에너지가 시험체의 기하학적 모양
또는 시험체의 불연속으로 인하여 도달되지 않는 시험체 내의 영역 |
| 음향 임피던스(acoustical impedance) |
보통 음파의 속도와 밀도의 곱으로 표현되는, 주어진 재료의 한 지점에서 음파 속도에
대한 음압의 비율 |
| 음향 흡수(acoustical absorption) |
| 초음파 에너지가 다른 형태의 에너지로 변환되면서 발생하는 감쇠 성분 |
| 음향 이방성(acoustical anisotropy) |
초음파가 전파되는 방향에 따라 초음파의 속도와 같은 음향 특성에 차이를 나타내는
재료의 음향 특성 |
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| 자동 주사(automatic scanning) |
| 시험체 표면에서 기계적 구동 장치에 의한 탐촉자의 초음파 빔을 이용하는 기법 |
| 잡음, 구조적 에코(grass, structural echoes) |
| 재료 내의 입자 경계면들 또는 미세한 반사체로부터 발생되는 에코들 때문에 공간적으로 생겨나는 불규칙한 신호 |
| 저면(back wall, bottom, back surface) |
| 펄스 에코 수직 탐상 기법에서 시험 표면의 반대면 |
| 저면 반사 손실(loss of back reflection) |
| 시험체의 저면에서 반사된 지시의 소멸 또는 진폭의 현저한 감소 |
| 저면 에코(back wall echo), 바닥면 에코(bottom echo), 저면 반사(back reflection)B |
| 수직 탐촉자로 평행한 표면을 가진 시험체를 탐상할 때, 반대면으로부터의 에코에 대해 일반적으로 사용되는 초음파 빔 축에 수직인 경계면으로부터 반사되는 펄스 |
| 전이 보상(transfer correction) |
| 펴준 시험편 또는 대비 시험편과 실제 시험체 사이에서 발생하는 초음파 장비 이득값 차이의 보상(접촉 매질, 반사 및 감쇠 등에 기인한 손실 포함) |
| 전자 음향 탐촉자(electro-magnetic transducer, electro-dynamic transducer) |
| 자기 유도 효과(로렌츠 효과)로부터 전기적 진동을 음파 에너지로 바꾸거나 그 역으로 바꿀 수 있는 진동자 |
| 전자적 거리 진폭 보상(electronic distance-amplitude-compensation) |
| 동일한 크기이면서 서로 다른 거리에 있는 반사체로부터의 에코 진폭을 전자적으로 바꾸어서 에코의 높이를 같게 하는 장비의 기능 |
| 전파 속도(velocity of propagation) |
| 전파되는 방향과 관련하여 비분산성 재료 내에서 음파의 위상 또는 군 속도 |
| 전파 시간(propagation time, time pf flight) |
| 송신된 초음파 신호가 수신 지점에 이른 시간 |
| 접촉 매질, 접촉 매개체, 접촉막(couplant, coupling medium, coupling film) |
| 물, 글리세린 등과 같이 초음파 에너지가 탐촉자로부터 시험체에 잘 전달될 수 있도록 탐촉자와 시험체 사이에 적용하는 매개체. 주로 물, 기름, 글리세린, 가끔 물유리 등이 사용된다. |
| 접촉 매질 거리(coupling path) |
| 탐촉자의 입사점과 빔 입사점 사이의 접촉 매질거리 |
| 접촉법(contact testing technique) |
| 시험체 표면에 직접 초음파 탐촉자를 접촉하여(접촉 매질의 사용 유무에 관계없이) 주사하는 기법 |
| 접촉 손실(coupling loss) |
| 탐촉자와 시험체 사이에서의 초음파 손실 |
| 주사(scanning) |
| 탐상 목적에 따라 탐상면 위에서 초음파 탐촉자의 체계적인 이동 |
| 주사 방향(scanning direction) |
| 시험 표면에서 탐촉자의 이동 방향 |
| 주사 범위(scanning zone) |
| 탐상 목적에 맞게 주사를 하는 범위 |
| 중심 주파수(center frequency) |
| 중심 주파수에서의 진폭보다 투과법인 경우 3db, 펄스 에코법인 경우 6db 낮은 진폭을 갖는 주파수들의 산술적 평균 |
| 지연 경로(delay path) |
| 진동자와 시험체의 입사점 사이의 거리 |
| 지연 에코(delayed echo) |
| 파의 형태 변환이나 다른 경로로 인해 동일한 반사원으로부터 발생된 다른 에코들보다 늦게 동일한 수신점에 도달하는 에코 |
| 지연 시간축, 영점의 수정(delayed time-base sweep, correction of zero point) |
| 시간축 송신 펄스 또는 기준 에코와 관련된 주어진 지연 시간(고정 또는 지정가능)에 따라 기동시키는 시간축 |
| 직접 주사법, 직사법, 0.5 스킵법(direct scan technique, single traverse technique) |
| 초음파 빔을 시험체의 한 면에 1회 반사 시킨 후 검사영역에 도달하게 하는 기법 |
| 진동자(transducer, crystal, element) |
| 전기적인 에너지를 음향 에너지로 변환 또는 음향 에너지를 전기적인 에너지로 변환시키는 탐촉자의 능동 소자 |
| 진동자 댐핑제(transducer backing) |
| 댐핑을 증가시키기 위해 진동자의 뒷면에 부착시킨 재료 |
| 진자 주사(orbital scanning) |
| 반사체 주위로 탐촉자를 돌려서 주사하는 방법으로, 이미 검출된 반사체의 형상 정보를 얻기 위해 사용되는 기법 |
| 집속거리(convergence distance) |
| 분할형 탐촉자에서 시험체의 표면과 집속 영역과의 거리 |
| 집속 영역, 집속점(convergence zone, convergence point) |
| 분할형 탐촉자에서 송신빔과 수신빔의 축이 교차하는 영역 또는 지점
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| 집속 탐촉자(focusing probe) |
| 집속 빔이나 초점을 만드는 특별한 장치(곡면을 가진 진동자, 렌즈, 전기적 조작 등)에 의해 초음파 빔이 집속되는 탐촉자 |
| 증폭 직선성(amplitude linearity) |
| 수신기상의 입력 신호의 진폭과 초음파 탐상 장비 또는 보조 디스플레이상에 나타나는 신호 진폭과의 비례 관계의 측정값 |
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| 초음파(ultrasonic wave) |
| 통상 주파수가 29khz 이상으로서, 가청 주파수 범위보다 큰 주파수를 갖는 음파 |
| 초음파 빔(ultrasonic beam) |
| 균질한 재료(비분산성 재료)에서 초음파 에너지의 주된 부분이 그대로 전달되는 영역 |
| 초음파 탐상 검사 장비(ultrasonic test equipment) |
비파기 검사를 하는 동안 비파괴 검사 기기에 연결되는 초음파 탐상기, 탐촉자, 케이블 및
모든 장치로 구성되는 장비 |
| 초음파 탐상기(ultrasonic test instrument) |
비파괴 검사용으로 초음파 신호를 송신하고 수신하며, 처리하고 표시하는 초음파 탐촉자
혹은 탐촉자들과 함께 사용되는 계기 |
| 초음파 탐상 시험(ultrasonic testing) |
초음파를 시험체 안에 전달했을 때 시험체가 나타내는 음향적 성질을 이용해서 시험체의
내부 흠집이나 재질 등을 조사하는 비파괴 시험 |
| 초 점(focal point, focus) |
| 음압이 최대가 되는 지점 |
| 초점 거리(focal length) |
| 집속형 탐촉자에서 음파의 발생 지점에서부터 초점까지의 거리 |
| 초점 깊이, 초점 영역, 초점 범위(depth of field, focal zone, focal range) |
| 음압이 최대값과 비교하여 어느 수준 이상이 되는 집속 탐촉자의 초음파 빔의 영역 |
| 최대 주파수(peak frequency) |
| 최대 진폭을 보이는 주파수 |
| 측면공(side drilled hole, side cylindrical hole) |
| 시험면에 평행하게 가공한 원기둥형 반사체 |
| 측면 에코(side wall echo) W |
| 시험체 표면과 저면이 아니 기타 다른 표면에 의해 반사된 에코 |
| 측정 범위(time base range) |
| 탐상기의 눈금판 또는 보조 눈금판의 시간 축에 표시되는 빔 노정의 최대 거리 |
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| 파동 행렬(wave train) |
동일한 근원으로부터 발생하고 동일한 특성을 가지며, 동일한 경로로 진행하는 정해진 수
만큼의 연속된 초음파 |
| 파 장(wave length) λ |
| 한 주기 동안 파가 진행한 거리 |
| 파전면(wave front) |
| 같은 위상을 가진 파의 모든 지점을 연결하는 연속된 표면 |
| 펄 스(pulse) |
| 짧은 순간의 전기 신호 또는 초음파 신호 |
| 펄스(에코) 길이(pulse(echo) length) |
| 정해진 높이에서 측정된 펄스(에코)의 선단 및 후단 사이의 시간 간격 |
| 펄스 모양(pulse shape) |
| 시간 영역에서 펄스의 형태 |
| 펄스 반복 주파수, 펄스 반복률( pulse repetition frequency, pulse repetition rate) |
| 단위 시간당 생성되는 펄스의 수, 일반적으로 Hz로 표시함 |
| 펄스 에너지(pulse energy) |
| 펄스 내의 전체 에너지 |
| 펄스 에코법, 펄스 반사법(pulse echo technique, reflection(pulse) technique) |
| 초음파 펄스를 송신하고 반사한 뒤 수신하는 방법 |
| 펄스(에코) 진폭, 신호 진폭(pulse(echo) amplitude, signal amplitude) |
| A-주사 표시를 사용할 때 일반적으로 시간축 선에서 피크까지 펄스(에코)의 최대 진폭 |
| 표면 에코(surface echo) S |
보통 수침법 또는 지연재를 사용하는 직접 접촉법에서 사용되는 것으로서,
시험체의 첫 번째 경계면으로부터 탐촉자로 수신된 에코 |
| 표준 시험편(calibration block) |
재질, 모양, 치수가 규정되어 초음파적으로도 감정된 시험편. 탐상기의 성능 시험 또는
감도 조정 등에 사용한다. |
| 표면파(surface wave), 레일리파(Rayleigh wave) |
| 대략 한 파장 정도의 유효 침투 깊이를 가지고 매질의 표면으로 진행하는 파 |
| 표면파 탐촉자(surface wave probe) |
| 표면파를 발생, 수신하기 위한 탐촉자 |
| 피크 수(peak number) |
보통 수신 에코 신호의 파형 지속 시간을 나타내는 데 사용되는, 수신 신호의 파형 지속
시간 동안 최대 진폭의 20%(- 14db)보다 큰 진폭을 가진 사이클의 수
비고. 피크 수의 역수를 “탐촉자 댐핑 계수”라고 한다. |
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| A-주사 표시(A-scan display, A-scan presentation) |
X축에 초음파의 진행 시간을, Y축에 초음파 신호 진폭 크기를 나타내는 초음파 신호의
표시 |
| B-주사 표시(B-scan display, B-scan presentation) |
한 방향으로만 주사되는 탐촉자로, 빔축의 위치에 대응하여 미리 설정된 진폭의 범위를
가진 에코들에 대한 빔 경로를 나타냄으로써 형성된 시험체 단면의 표시
비고. 일반적으로 반사체의 깊이 및 길이를 보여 주기 위해 사용된다. |
| C-주사 표시(C-scan display, C-scan presentation) |
주사 된 탐촉자 위치와 대응하여 미리 설정된 진폭 또는 빔 경로 길이의 범위 내에
나타나는 에코들을 표시함으로써 형성된 시험체의 2차원 평면 표시 |
| DAC 곡선(distance-amplitude correction curve) |
동일한 크기의 반사체가 탐촉자로부터의 거리가 달라짐으로 인하여 발생되는 피크 에코
진폭 변화에 의해 작성된 대비 곡선 |
| DGS법, AVG법(DGS method, AVG method) |
임의의 평저공 형태의 반사체로부터의 등가 신호 크기를 나타내어 크기를 측정하는
DGS선도를 사용하여 검사하는 방법 |
| DGS 선도, AVG 선도(DGS method, AVG diagram) |
여러 가지 크기의 디스크형 반사체에 대하여 초음파 빔이 진행한 거리와 이득(db값)상의
관계를 나타내는 일련의 곡선들 |
| 1탐촉자법, 1탐법(single probe technique) |
| 한 개의 탐촉자로 초음파를 발생시키고 검출하는 방법 |
| 1회 반사법, 1스킵법(double traverse technique) |
| 초음파 빔을 시험체의 한 면에 1회 반사시킨 후 검사 영역에 도달하게 하는 기법 |
| 2진동자 탐촉자(double crystal probe) |
| 1개의 탐촉자 안에 송신용 진동자와 수신용 진동자를 분리해서 갖춘 탐촉자 |
| 2탐촉자법, 2탐법, 송수신법(double probe technique, pitch catch technique) |
| 두 개의 탐촉자를 송신용 및 수신용으로 사용하는 초음파 탐상 기법 |
| 6 db 강하법(6db drop method) |
최대 에코 진폭이 나타나는 지점으로부터 에코가 1/2값(6db)으로 감소될 때까지 탐촉자를
이동하여 반사체 크기(길이, 깊이, 폭)를 측정하는 방법 |
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