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| 세라믹판과 동판을 붙이기 위해서 인듐을 사용한 이종재질 용접부 샘플 시험편을 스캐닝하여 아래에 실험 결과를 나타내었다. 각각의 C-scan 영상은 Ampliteude와 ToF(Time of Flight)값으로 나타낸 것이다. |
| 2종 재질 용접부 형상 |
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| 2종 재질 용접부 신호 양상 |
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| 세라믹과 인듐의 경계 영역 |
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| Amplitude |
Time of Flight |
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| 인듐과 동판의 경계 영역 |
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| Amplitude |
Time of Flight |
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